L. Pardo, N. Balakrishnan, N. Martín Apaolaza, E. Castilla
Se consideran dispositivos de “un solo uso"; es decir, dispositivos que al ser inspeccionados, en un momento determinado, únicamente presentan dos posibles estados, fallo o éxito, que son respectivamente la "censura a izquierda" o "censura a derecha" haciendo referencia al tiempo de vida que se desconoce. El observar tiempos de vida completos en la experimentación conllevaría el inconveniente de la amplitud del tiempo requerido. Éste es el motivo para llevar a cabo las denominadas "pruebas de vida aceleradas", que consisten en incluir ciertos "factores de estrés o desgaste", tales como ajustar un determinado valor de temperatura, humedad, voltaje, ... con el fin de incrementar los fallos o equivalentemente, acortar el tiempo de experimentación. Se estudia el modelo en el que el tiempo de vida es exponencial y hay múltiples factores de estrés. Para este modelo se presentan estimadores y estadísticos de contraste robustos basados en “distancias”.
Palabras clave / Keywords: dispositivos de un solo uso, múltiples factores de estrés, modelo exponencial, estimadores basados en distancias, contrastes de hipótesis tipo Wald
Programado
Sesión V09 Series Temporales
1 de junio de 2018 17:20
Sala 2
